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透射密度計TBX2000
The TBX1000? 透射密度計測量ISO視覺漫反射光學密度 (OD) 至6.60D. 較寬的測量范圍允許對多種類型的材質如薄膜,層壓板和基板進行評估.該設備帶有一個2.00D的校準標準但有一個可選的校準標準值需要購買。TBX1500還可以測量正點和負點區域;TBX2000測量不透明度百分比和透射度。數據可以通過USB端口(配件需另外采購)上傳電子表格。TBX?可以顯示所有函數的存儲參考值的偏差。
特點:
軟鍵菜單操作非常適合測量金屬薄膜的光學密度。
規格: 光學設計……………………………………………………………….............ANSI PH2.19 顯示…………………………………………………………………………………..LCD屏幕(128x64像素) 光圈…………………………………………………………………………………..1,2,3毫米 桿長……………………………………………………………………………………7.5英寸 輸出接口……………………………………………………………………………USB 電源輸入……………………………………………………………………………12V輸入110/220適配器 測量范圍……………………………………………………………………………0-6.00D 準確度……………………………………………………………………………….0.02D 精度……………………………………………………………………………………0.01D 預熱時間…………………………………………………………………………….無 選項: 型號 PART# 功能 TBX1000 FD343-10(USA);FF343-10 (Intl.) 密度;密度差 TBX1500 FD343-15 (USA); FF343-15 (Intl.) 密度;密度差;正負點距離 TBX2000 FD343-20 (USA); FF343-20 (Intl.) 密度;密度差;%密度;%透明度
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